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Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設備 近年來，自動駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前優(yōu)良技術(shù)，解決自動駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動駕駛芯片的可靠性，保障汽車運行中的安全。目前國內(nèi)尚未有關(guān)于汽車芯片可靠性的標準，而是基于國際AEC-Q100系列標準而進行汽車芯片可靠性測試，其中一環(huán)節(jié)就是要對汽車芯片進行CDM和HBM的靜電相關(guān)測試。

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目前，對于半導體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加。對于在以往的TLP測試機無法完成的高電壓?大電流的特性測試，在TLP傳輸線脈沖測試儀上得以實現(xiàn)、并有助于高耐壓元件工作參數(shù)的取得及分析。

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ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5100D 全自動晶圓ESD測試機

emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學微光顯微鏡產(chǎn)品特點：具有優(yōu)化的操作理念。 擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學系統(tǒng)。 基于“向前看”理念的升級設計。

ESD測試設備,芯片ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機

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